Questão de Ciência e TecnologiaGeral
- Banca:
- CESPE / CEBRASPE
- Órgão:
- AEB
- Ano:
- 2025
- Modalidade:
- Múltipla escolha
- Código:
- Q3309480
Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja…
VUNESP · 2025
Algumas amostras que necessitam ser analisadas por microscopia eletrônica de varredura são sensíveis às condições usuais em que o equipamento opera.…
VUNESP · 2025
A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque
VUNESP · 2025
Quando uma imagem permanece embaçada mesmo estando na distância focal ideal, indica que há um tipo de aberração gerado pelas lentes que compõem o…
VUNESP · 2025
Durante a preparação de uma amostra sólida para ser analisada por microscopia eletrônica de varredura, certas etapas são necessárias para garantir a…
Gabarito: Alternativa C.
VUNESP · 2025
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